测量{688eb3 15 12f35}平面之间的平行度是几何公差测量中的常见任务。平行度误差是指两个平面在空间方向上保持等距的程度偏差。以下是几种常用的测量方法：
1. 三坐标测量机 (CMM
原理: 这是最精确、最通用的方法之一。CMM的测头在待测平面和基准平面上分别采集多个点。
步骤:
1. 将工件稳固地安装在CMM工作台上。
2. 在基准平面上采集足够多(通常至少3点，越多越精确)的点，软件自动拟合出一个“基准平面”。
3. 在待测平面上采集足够多(同样至少3点，越多越精确)的点，软件拟合出“实际待测平面”。
4. CMM软件计算实际待测平面上的所有测量点到基准平面的垂直距离。
5. 软件找出这些距离中的最大值(Dmax) 和最小值(Dmin)。
6. 平行度误差 = |Dmax
优点: 精度高，可测量复杂形状，自动化程度高，结果直接输出。
缺点: 设备成本高，需要专业操作人员和环境。
2. 千分表/百分表配合高度规或平台
原理: 利用精密平台作为参考平面，通过表头测量两个平面相对于平台的高度差变化。
步骤:
1. 将工件放置在精密测量平台上(平台平面度需远优于要求的平行度公差)。
2. 调整工件，使基准平面与测量平台稳定接触。通常需要三点支撑或精密工装确保基准面贴合平台。这一步至关重要！
3. 将千分表或百分表安装在高度规支架或表架上，使测头垂直接触待测平面的表面。
4. 移动工件或移动表架(确保基准面始终贴合平台)，使测头在待测平面的不同位置进行测量。测量点应均匀分布在整个待测平面上，覆盖关键区域。
5. 记录千分表在每个测量点的读数。这些读数代表了待测平面上该点相对于测量平台(即基准平面)的高度偏差。
6. 找出所有读数中的最大值(Rmax) 和最小值(Rmin)。
7. 平行度误差 = |Rmax
优点: 设备相对常见，成本较低，方法直观。
缺点: 依赖平台的平面度和基准面的稳定贴合；测量点数量有限；手动操作效率较低；对操作技巧有一定要求；不适合大型或复杂工件。
3. 光学方法 (自准直仪、激光干涉仪等)
原理: 利用光束的直线性和反射原理测量两个平面之间的角度偏差，再结合平面尺寸计算平行度误差。
步骤(以自准直仪为例):
1. 将自准直仪放置在稳定的基座上。
2. 在基准平面上放置一个高质量的反射镜(或利用平面本身)，调整自准直仪使其光轴大致垂直于基准平面，并读取一个初始角度读数A1。
3. 在待测平面上放置反射镜(或利用平面本身)，保持自准直仪位置不变。
4. 读取自准直仪在待测平面反射后的角度读数A2。
5. 两个平面的角度偏差 θ ≈ |A2
6. 如果待测平面的有效长度为L，则平行度误差 ≈ L tan(θ) ≈ L θ (当θ很小时，θ以弧度为单位)。需要将角秒转换为弧度(1角秒 ≈ 4. 84 8e-6弧度)。
优点: 非接触，精度可以很高，特别适合大平面或不易接触的平面。
缺点: 设备昂贵(尤其激光干涉仪)；操作和计算相对复杂；需要高质量的反射面；环境(振动、气流)影响较大。
⚖ 4. 水平仪法 (主要用于水平基准)
原理: 利用水平仪测量两个平面相对于水平面的倾角，如果倾角一致则平行。
步骤:
1. 将工件放置在支撑上。
2. 将精密水平仪(如电子水平仪、合像水平仪)放置在基准平面上，读取倾角读数α。
3. 将同一水平仪小心放置在待测平面上，读取倾角读数β。
4. 两个平面的角度偏差 γ = |β
5. 如果待测平面的有效长度为L，则平行度误差 ≈ L tan(γ) ≈ L γ (γ以弧度为单位)。
优点: 设备相对简单，适合大型机床导轨等水平安装面的现场测量。
缺点: 只能测量相对于水平面的平行度，不能测量任意方向；精度受水平仪限制；计算需要转换。
5. 塞尺/块规法 (粗略测量或局部检查)
原理: 直接测量两个平面之间的间隙变化。
步骤:
1. 将两个平面尽可能靠近放置。
2. 在平面的不同位置，尝试塞入不同厚度的塞尺或块规组合。
3. 记录能塞入的最大塞尺厚度(Gmax) 和最小塞尺厚度(Gmin) (或直接为0的位置)。
4. 平行度误差 ≈ |Gmax
优点: 最简单，成本最低，快速局部检查。
缺点: 精度最低；只能反映局部间隙，难以评估整个平面的综合平行度；受平面表面质量、毛刺、清洁度影响大。
关键要点和注意事项
1. 定义基准平面: 明确哪个平面是基准平面至关重要。所有测量都是相对于这个基准进行的。
2. 基准平面的建立: 在非CMM方法中，必须确保基准平面稳定、可靠地贴合在参考平台或工装上。基准平面本身的形状误差(如平面度)会直接影响平行度测量结果。
3. 测量点的数量和分布: 足够数量且均匀分布的测量点是获得可靠结果的基础。测量点应覆盖整个待测平面，特别是边缘和关键区域。ISO标准通常建议至少5个点。
4. 平行度误差的定义: 平行度误差是整个待测平面上各点到基准平面的距离的最大值与最小值之差。它不是平均值或局部值。
5. 计算方法: 理解如何从原始数据(高度差、角度差)计算出最终的平行度误差值。
6. 设备精度: 所用测量设备(平台、千分表、水平仪、CMM等)的精度必须远高于被测工件的平行度公差要求。
7. 环境因素: 温度变化、振动、灰尘等环境因素会影响高精度测量结果。
8. 标准依据: 测量方法应符合相关标准(如ISO 1101, ASME Y14.5, GB/T 1182等)的要求。
✅ 总结
选择哪种方法取决于工件的尺寸、形状、要求的精度、可用的设备、预算和生产环境。CMM提供最高的精度和灵活性，但成本高。千分表配合平台是最常用的车间方法。光学方法适合大平面和高精度非接触测量。水平仪法主要用于水平基准面。塞尺法仅用于快速粗略检查。理解每种方法的原理、步骤和局限性，才能根据具体情况选择最合适、最可靠的测量方案。
